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30
2022
-
09
我國測試測量?jì)x器在觀(guān)點(diǎn)、技術(shù)上存在的挑戰(二)
作者:
圖 / 攝圖網(wǎng);文 / 網(wǎng)絡(luò )
測試儀器企業(yè)在觀(guān)點(diǎn)上也進(jìn)行改變,不應該過(guò)分追求短期利益,造成研發(fā)資源的重復浪費,而且將行業(yè)的服務(wù)觀(guān)念提升上去。良好的市場(chǎng)培育、售后服務(wù)和技術(shù)支持是成功必不可少的要素,而我國企業(yè)的服務(wù)意識更是有待提升。
我國測試儀器在技術(shù)上存在的不足,導致產(chǎn)品總是依靠進(jìn)口。我國在總線(xiàn)技術(shù)上與國外有較大差距,無(wú)論是GPIB、VXI還是PXI、LXI、AXIe總線(xiàn)等,都是國外定義研究,我們只能在它們定義的測試系統架構及測試方法上進(jìn)行應用。此外,我國在臺式測試儀器的具體的功能定義和產(chǎn)品的功能實(shí)現等方面還存在著(zhù)不足。由于核心半導體器件的缺失我國測試儀器發(fā)展受到了限制,芯片研發(fā)能力十分重要,這也是我國迎頭趕上的方面,才能推動(dòng)我國測試測量?jì)x器的發(fā)展。
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